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 HOME   제품소개   측정/검사 장비
  CSP Reel Taping S/W 개발
반도체 CHIP의 전기적 특성 (임피던스, 소비전류) 을 측정하여 양/불량을 판정 하고 등급을 결정하여 분류한 후 Reel Tapping을
하는 설비
확보기술
전기 특성 검사
S/W 기술
전기 특성 검사
S/W 기술
전기 특성 검사
S/W 기술
  LCD Cell Probe S/W 개발
LCD Cell 공정 완료 후 제품 결함을 검사하기 위해 Inline에서 Cell을 Pick-up 하여 Align 한 다음 Auto-Probe 한 후 Cell의
결함을 자동으로 검사하는 장비로 검사 결과 데이터를 CIM을 통하여 HOST로 전송
확보기술
정밀 ALIGN
VISION 기술
LCD 후공정 INLINE
운영 S/W 기술
SECS, TCP/IC, MELSEC
통신 S/W 기술
  OLED Array Cell Tester S/W 개발
OLED 원장 기판의 Cell 내에 있는 COG Pad를 Probe 하여 Cell 양/부를 측정, 검사하는 장비로, Vision Align 및 Auto
Focusing, 측정기와의 GPIB I/F 및 CIM, Indexer Robot I/F, RFID를 통한 이력관리가 가능
확보기술
정밀 Align 및 고속,
정밀 Auto Probe 기술
OLED PORT LINE
설비 운영 S/W 기술
SECS, TCP/IP, GPIB
통신 S/W 기술